玉崎日本EMIC磁粉探傷高強(qiáng)度紫外線強(qiáng)度計(jì)

簡(jiǎn)要描述：玉崎日本EMIC磁粉探傷高強(qiáng)度紫外線強(qiáng)度計(jì)

磁粉探傷
高強(qiáng)度紫外線強(qiáng)度計(jì)
可測(cè)量高亮度的型號(hào)

型號(hào)：UV-D3

產(chǎn)品詳情

玉崎日本EMIC磁粉探傷高強(qiáng)度紫外線強(qiáng)度計(jì)、玉崎日本EMIC磁粉探傷高強(qiáng)度紫外線強(qiáng)度計(jì)

EMIC電子磁氣工業(yè)自 1957 年成立以來，開發(fā)和制造了廣泛的磁性應(yīng)用領(lǐng)域的產(chǎn)品，例如磁粉探傷和渦流探傷的無損檢測(cè)設(shè)備、充磁/退磁設(shè)備以及磁性測(cè)量設(shè)備，作為一個(gè)磁專家小組。我去了那里。

我們重視的是傾聽客戶隱藏的聲音，通過時(shí)代的制造為世界做出貢獻(xiàn)。此外，我們不僅是一家提供產(chǎn)品的公司，也是一家為未來的安全和安保提供保障的磁性咨詢公司。

作為一家以發(fā)展為導(dǎo)向的公司，我們將不斷以技術(shù)開拓未來。我們將滿足您的要求。

業(yè)務(wù)內(nèi)容	無損檢測(cè)設(shè)備、充退磁設(shè)備、磁性測(cè)量設(shè)備、其他磁性應(yīng)用產(chǎn)品及相關(guān)耗材的設(shè)計(jì)、制造和銷售

磁粉探傷

可測(cè)量高亮度的型號(hào)

型號(hào)：UV-D3

用于控制紫外線強(qiáng)度。

用于控制黑光的紫外線強(qiáng)度。

波長(zhǎng)為355-375納米(nm)

具有峰值保持功能。

易于閱讀的數(shù)字顯示。

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